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Fluorescencia de Rayos X

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La norma internacional ISO 13196:2015 define la fluorescencia de rayos X (XRF, por sus siglas en inglés) como "un método espectroscópico no destructivo para la determinación de la composición química de materiales sólidos, líquidos o gaseosos".

De acuerdo con la norma ISO 13196:2015, la fluorescencia de rayos X se basa en la interacción de los rayos X de alta energía con los átomos de un material. Los átomos del material absorben parte de la energía de los rayos X y se excitan a un estado de energía superior.

 

Cuando los átomos excitados vuelven a su estado de energía original, emiten radiación de fluorescencia de rayos X con una energía característica que es única para cada elemento. Al medir la energía de la radiación de fluorescencia emitida, se puede determinar la composición elemental del material.

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